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顆粒粒度指顆粒的大小。通常球體顆粒的粒度用直徑表示，立方體顆粒的粒度用邊長(zhǎng)表示。對(duì)不規(guī)則的礦物顆粒，可將與礦物顆粒有相同行為的某一球體直徑作為該顆粒的等效直徑。有時(shí)候，在描述粉塵顆粒大小的時(shí)候也會(huì)用到。

利用梅特勒XP精密天平檢測(cè)顆粒粒度，需要配備篩分易巧稱量組件。梅特勒篩分易巧稱量組件，是將樣品篩固定在天平稱量臺(tái)上，以方便顆粒物稱量的輔件。用戶使用組件將樣品篩固定在天平稱量臺(tái)后，只需輕點(diǎn)觸摸屏上的One Click? ,即可啟用一鍵稱量篩分分析解決方案，根據(jù)屏幕提示步驟，樣品篩可逐步稱量。

梅特勒電子天平用于顆粒粒度檢測(cè)步驟如下：

    1、一鍵啟動(dòng)任務(wù)，固定樣品篩正確位置并自動(dòng)稱量所有空篩。

    2、篩分，篩分震動(dòng)器對(duì)樣品篩進(jìn)行篩分并完成樣品稱量。

    3、回稱，系統(tǒng)提示下一步篩分并顯示每個(gè)樣品篩的質(zhì)量。

    4、結(jié)果，顯示顆粒粒度分布百分比。

    5、記錄存檔，存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，可隨時(shí)打印符合GLP結(jié)果報(bào)告。